Sistema de Fresado con Haz de Iones Leica EM RES102

Cuando las superficies de las muestras de los materiales están preparadas para SEM o microscopía de luz incidente, la muestra normalmente se somete a varios procesos hasta que la capa o la superficie a analizar está mecanizada con precisión. Las soluciones de flujo de trabajo de Leica Microsystems para la tecnología de estado sólido cubren todos los pasos necesarios para la exigente preparación de muestras de alta calidad. Consiga planos inclinados finos, limpios, desbastados y cortados, y prepare las muestras con la máxima flexibilidad gracias al sistema Leica EM RES102. El exclusivo sistema de fresado por iones combina la preparación de muestras para TEM, SEM y LM en una sola unidad de sobremesa. Los diferentes tipos de portamuestras permiten llevar a cabo una amplia gama de aplicaciones. Además del fresado por iones de alta energía, el sistema Leica EM RES102 también puede utilizarse para el procesamiento de muestras extremadamente delicadas con haces de iones de baja energía.