Sistema Confocal Leica DCM 8

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Sistema de metrología óptica de superficies 3D Leica DCM8
Diseñado para ayudarle a maximizar la eficiencia, Leica DCM8 aúna las ventajas de la microscopía confocal de alta definición con la interferometría en un versátil sistema dual. Análisis ultrarrápidos garantizados gracias a la selección de modos con un clic, el sofisticado software y el escáner confocal HD sin piezas móviles.
No importa si trabaja en producción o investigación, Leica DCM8 ofrece los resultados de análisis metrológicos precisos y repetibles que necesita para optimizar el rendimiento de sus materiales.
¿Presenta la superficie pendientes pronunciadas o formas complejas? Logre una resolución vertical de hasta 2 nm con la microscopía confocal HD.
¿Es su superficie lisa con micropicos y valles? Escoja entre tres modelos de interferometría: Interferometría de escaneado vertical (VSI), Interferometría de desplazamiento de fase (PSI) o PSI ampliado (ePSI) para una resolución de hasta 0,1 nm.
Y, si necesita una imagen HD 2D rápida y brillante, Leica DCM8 ofrece los modos de campo claro y oscuro.

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